簡析TD-LTE系統(tǒng)測試儀表欠缺
目前,在部電信研究院新近落成的3G大樓中,已安排了10個(gè)系統(tǒng)設(shè)備廠家的試驗(yàn)室,目前10個(gè)廠家都陸續(xù)進(jìn)場。此外,還建有多家終端芯片廠家的聯(lián)調(diào)測試試驗(yàn)室,并為TD-LTE的測試儀表開發(fā)等提供服務(wù)。 新型無線技術(shù)與產(chǎn)品的成熟,迫切需要外場的試驗(yàn)環(huán)境。在外場環(huán)境中,無線資源管理算法與調(diào)度等算法可進(jìn)行優(yōu)化,并對無線組網(wǎng)性能進(jìn)行驗(yàn)證與提高。為此,在北京郊區(qū)的懷柔和順義相繼建設(shè)TD-LTE的外場環(huán)境。每個(gè)廠家建有5個(gè)基站(每基站3扇區(qū))。LTE是新型的無線技術(shù),網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)與以往系統(tǒng)不同,在測試中遇到一些問題和挑戰(zhàn)
1.空口信令測試
為了降低時(shí)延,LTE采用了扁平化的架構(gòu),在無線部分只有eNodeB一個(gè)網(wǎng)元設(shè)備。因此3G采用的在RNC和NodeB間的Iub接口上監(jiān)測空口信令的方式,不適用于LTE系統(tǒng)。在目前的LTE系統(tǒng)中,各廠家的基站普遍采用了分布式基站架構(gòu),即由BBU和RRU組成。因此LTE中空口信令的監(jiān)測有兩種方案:一種是利用模擬UE類工具來監(jiān)測空口的協(xié)議;**種是在Ir接口上監(jiān)測空口信令。在比較了這兩種方案后,由于**種方案受限于Ir接口的非標(biāo)性和不開放性,目前暫時(shí)沒有第三方儀表,所以在測試中基本采用的是**種方案。
2.接口一致性測試
在LTE系統(tǒng)中,對基站有三個(gè)主要接口,分別是Uu、S1和X2接口。S1是基站和核心網(wǎng)之間的接口,X2是基站之間的接口。如何保證LTE基站與CN設(shè)備,以及不同廠家之間基站的互操作性,我們建立了一套接口一致性測試系統(tǒng)。這套測試系統(tǒng)是在信令仿真類儀器儀表的基礎(chǔ)上進(jìn)行二次開發(fā)而成。隨著需求和產(chǎn)品功能的不斷增加,這套測試系統(tǒng)的測試內(nèi)容也會隨之不斷增加。通過這套系統(tǒng)也可實(shí)現(xiàn)測試的自動化,減少測試時(shí)間。
3.上行解調(diào)性能測試
3GPP在制定LTE的上行解調(diào)性能指標(biāo)時(shí),主要是針對2天線和4天線來制定的,沒有制定8天線的性能指標(biāo)。為了能夠?qū)?天線設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的性能測試,在測試前,我們聯(lián)合運(yùn)營商、制造商通過討論、仿真和評估,明確了具體的測試模型、測試指標(biāo),確定了*后的測試方案,并在試驗(yàn)中加以驗(yàn)證。
4.TD-LTE多天線性能測試
在TD-LTE技術(shù)試驗(yàn)中,為了能對多天線性能進(jìn)行必要的測試,組織了產(chǎn)學(xué)研用幾方面共同攻關(guān),研究確定了TD-LTE智能天線整體測試方案。這套測試系統(tǒng)主要是在上行和下行方向各使用了一套信道仿真模擬器,用于模擬實(shí)際的信道場景,**實(shí)現(xiàn)8通道信道模擬和測試系統(tǒng)。通過這套測試系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)8通道天線性能的可復(fù)現(xiàn)和**定量測試。
在這次TD-LTE技術(shù)試驗(yàn)過程中,我們深刻感受到在新技術(shù)方面,系統(tǒng)設(shè)備的研發(fā)和成熟程度明顯早于儀表。因此需要加快儀表開發(fā)以及儀表對新功能的支持響應(yīng)速度。
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